TXRF全反射X射线荧光光谱仪S4 TSTAR-古天乐代言太阳集团

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TXRF全反射X射线荧光光谱仪S4 TSTAR

更新时间：2026-07-14

产品品牌：Bruker

产品型号：S4 TSTAR

产品描述：多功能、快速、准确、高效的可用于痕量微量元素分析的高性能全反射X射线光谱仪，适用于分析各种样品类型，包括悬浮液、粉末、纳米颗粒或薄膜

布鲁克 BRUKER全反射X射线荧光光谱仪TXRF

S4 T-STAR

用于痕量微量元素分析的高性能全反射X射线光谱仪

布鲁克BRUKER全反射X射线荧光光谱仪 S4 T-STAR是一款多功能、快速、准确、高效的XRF分析设备，适用于分析各种样品类型，包括悬浮液、粉末、纳米颗粒或薄膜，制样简单，无需消解。微量分析性能卓越，检测限低至1 Pg。

设备支持多用户进行操作，可24h连续不间断测样，测试数据准确可靠。处理时间快，可在现场直接分析结果。

通用性强：

S4 T-STAR是一款通用性强的检测设备，可广泛适用于各类应用，能够对在不同规格、材质载样薄片上的样品进行快速定量分析，无需对样品进行消解，制样简单方便。

· 显微镜玻片:临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、图片和切片。

· 矩形载体:尺寸小于54毫米，用于膜片、滤片和纳米颗粒层

· 可根据客户需求提供定制化载样薄片、托盘

设备特点：

· TXRF 光谱仪 S4 T-STAR 提供

· TXRF 运营成本低，无需气体、冷却介质或复杂的实验室基础设施。

· 自动校准功能，基本无需后期维护

· 优化后的测试系统支持工业级全天候不间断测试。

· Bruker多样化的样品托盘和工具为用户提供了更多选择，可加快样品制备速度，降低样品污染风险。

· 单次测样容量多达90个样品。

· 自动生成高质量分析结果，适用于精密制作和科学研究。

可选内容：

GIXRF 选项 - 先进材料表征

S4 T-STAR 的 GIXRF 选项支持用户通过掠入射 X 射线荧光技术（GIXRF）进行先进材料表征。该技术特别适用于纳米颗粒、单分子层及分层结构系统的分析。

使用S4T-STAR GIXRF选项进行金纳米粒子的角向扫描

T-AERO套件- -实现现场直接气溶胶分析

T-AERO套件是基于S4 T-STAR或S2 PICOFOX的直接采样现场解决方案，可对空气中颗粒物（PM）进行定量元素分析。

该套件能快速测定气溶胶中的痕量元素。相较于需耗时准备和处理的传统实验室方法，直接采样可显著缩短采样与分析时间。

T-AERO可在短短一小时内提供痕量元素结果，简化测量流程，助力污染监测及时开展空气质量评估，确保符合环境标准。

TXRF应用介绍：

环境检测 - 土壤、水中污染物

S4 T-STAR 无需消耗任何气体以及耗材、无需冷却介质，无需复杂的带有排气系统的实验室条件，可轻松安装在任何需要监控废水的生产现场。

体液分析 - 组织、血液、尿液和其他体液中的元素分析

微量元素来越多地作为预防常见疾病的膳食补剂以及临床辅助治疗药物，并已成为基础和应用科学的热门研究领域。因此对组织、血液等体液中相关痕量元素的定量分析尤为重要。

药物学 - 制药中的催化剂分析

根据新的欧盟和美国政府药典标准检测药品生产中的金属污染物或催化剂元素

更多应用：

TXRF通常还可用于食品、饮料中的微量营养元素定量分析；土壤、矿物中的沉积物、污泥、矿石、硅酸盐等的成分检测；玻璃碎片的表征与匹配分析；细胞与蛋白质悬浮液中的微量金属分析；膳食营养补充应用及植物鉴定等。’